2024年4月1日消息，据国家知识产权局公告，北京大学取得一项名为“一种电子能损计算方法、装置及电子设备“，授权公告号CN113076687B，申请日期为2021年3月。

专利摘要显示，本发明涉及材料分析技术领域，尤其涉及一种电子能损计算方法、装置及电子设备。该电子能损计算方法包括：获取计算参数，所述计算参数包括入射离子的原子序数、原子质量和动能，以及材料的原子序数和原子质量；将所述入射离子的所述原子序数、所述原子质量和所述动能，以及所述材料的所述原子序数和所述原子质量进行预处理，获得预处理后的参数；将所述预处理后的参数输入预测数据模型，并输出获得所述材料对所述入射离子的能量损失。本发明提供的电子能损计算方法和装置提高了电子能损的计算结果的真实性和准确性。